超聲波流量計(jì)芯片的原理探討  六十三

超聲波流量計(jì)的Dracula為獨(dú)立的版圖驗(yàn)證系統(tǒng)，可以進(jìn)行包括DRC(設(shè)計(jì)規(guī)則檢查)、ERC(電學(xué)規(guī)則檢查)、LVS(版圖和電路比較)、LPE(版圖寄生參數(shù)提取)、PRE(寄生電阻提取)。DRC：根據(jù)工廠提供的工藝尺寸規(guī)則對IC版圖做幾何空間檢查，以確保線路能夠被特定加工工藝實(shí)現(xiàn)。

ERC：檢查電源、地的短路，懸空器件和節(jié)點(diǎn)等電氣特性。

LVS：為了保證設(shè)計(jì)的版圖與電路的一致，將版圖與電路原理圖對比，以檢查電路的連接，與MOS的長寬值是否匹配。

LPE：從版圖數(shù)據(jù)庫提取電氣參數(shù)(如MOS的w、L值，BJT、二極管的面積、周長，結(jié)點(diǎn)寄生電阻電容等)并以Hspice網(wǎng)表方式表示電路。對于大尺寸例如0．5／zm工藝以上寄生參數(shù)效應(yīng)影響較小，有時(shí)可省略這個步驟的驗(yàn)證工作。

Tape out：版圖所有驗(yàn)證工作完成后，將版圖導(dǎo)出的GDSII文件提供給代工工廠生產(chǎn)，版圖設(shè)計(jì)工作結(jié)束。